受託分析/分析法技術開発(二次イオン質量分析法)
■SIMSの最新装置を用いた測定・解析のほか、顧客との分析に関するディスカッションや分析提案、技術調査や技術PRのための学会参加、顧客訪問など幅広く活躍いただきます。 【配属】 株式会社東レリサーチセンター・表面科学研究部 ※東レ株式会社籍、東レリサーチセンター出向となります。 【東レリサーチセンター・表面科学研究部について】 国内・海外の主要な半導体メーカー・製造装置メーカーからの受託分析対応により、最先端の半導体材料へ関わることができます。 また電気特性評価と同社の他の物理分析手法(SIMS、XPS、FT-IR、TEMなど)の結果を併せた解釈・考察の経験により、より広く分析・評価の知識を習得できます。 分析・評価の切り口で、今後大きく成長する先端半導体分野へ貢献することができるポジションです。