アプリケーションエンジニア<半導体関連装置/構造解析領域>
■世界的大手の半導体デバイスメーカーに対し、同社の最新鋭X線計測装置を用いた分析ソリューションの提供を担っていただきます。同社の顧客のニーズは、「高度化・複雑化する半導体製造プロセスにおいて、ナノレベルの構造や欠陥を正確に「可視化」し、歩留まり向上や次世代開発のスピードを加速させること」にあります。 そのため同社のアプリケーションエンジニアは装置操作以上に「応用技術者」として、最新の業界トレンドや顧客ニーズを深く理解し、物理・化学・物性・材料学的見地から技術提供することが求められます。 【具体的には】 ・測定データ解析および技術レポートの作成:測定データに対し、形状因子等の数理モデルを用いたフィッティングを行い、ナノ構造の寸法や形状を算出・評価していただきます。 ・技術的提案およびプロセスコンサルティング:物理的・数学的根拠に基づき、解析結果の妥当性を顧客のエンジニアへ提示し、製造プロセスの改善提案を行っていただきます。 ・グローバル・テクニカルサポート:国内外の顧客拠点における装置の立ち上げ、および最適測定レシピの構築を支援していただきます。 ・次世代装置の開発支援:現場での解析ニーズや技術的限界を論理的に整理し、社内の設計・開発部門へ新機能やアルゴリズムの改善を提言していただきます。 【担当製品】 透過型および放物型小角X線散乱装置 ※半導体プロセスのインライン形状計測における最先端ソリューションです。小角X線散乱による計測は、対象を直接撮影するのではなく、X線の干渉パターンから構造を逆演算する手法をとっていただきます。